Validez y confiabilidad de la prueba de memoria acumulativa de corto plazo/ Nieves I. Schade Yankovic.;Profesor Patrocinante: Lucio E. Rehbein Felmer
Idioma: Español Temuco (Chile): Universidad de La Frontera, 1987Descripción: 33 hojasTipo de contenido:- text
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Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Signatura topográfica | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | |
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Tesis y proyectos de título | Biblioteca Central Estantería | Tesis y trabajos de título | PSI S292v 1987 (Navegar estantería(Abre debajo)) | c.1 | No para préstamo | 35605000277199 |
Navegando Biblioteca Central estanterías, Ubicación en estantería: Estantería, Colección: Tesis y trabajos de título Cerrar el navegador de estanterías (Oculta el navegador de estanterías)
Prof. Patrocinante: Lucio E. Rehbein Felmer
Incluye índice, anexo.
Tésis (Psicológo y al grado de Licenciado en Psicología).--Universidad de la Frontera, Temuco, 1987