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Validez y confiabilidad de la prueba de memoria acumulativa de corto plazo/ Nieves I. Schade Yankovic.;Profesor Patrocinante: Lucio E. Rehbein Felmer

Por: Idioma: Español Temuco (Chile): Universidad de La Frontera, 1987Descripción: 33 hojasTipo de contenido:
  • text
Tipo de medio:
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Tipo de soporte:
  • volume
Tema(s): Nota de disertación: Tésis (Psicológo y al grado de Licenciado en Psicología).--Universidad de la Frontera, Temuco, 1987
Existencias
Tipo de ítem Biblioteca actual Colección Signatura topográfica Copia número Estado Fecha de vencimiento Código de barras
Tesis y proyectos de título Biblioteca Central Estantería Tesis y trabajos de título PSI S292v 1987 (Navegar estantería(Abre debajo)) c.1 No para préstamo 35605000277199

Prof. Patrocinante: Lucio E. Rehbein Felmer

Incluye índice, anexo.

Tésis (Psicológo y al grado de Licenciado en Psicología).--Universidad de la Frontera, Temuco, 1987