| 000 | 00909cam a22002657a 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | 18323 | ||
| 003 | CL-TeUF | ||
| 005 | 20221025154457.0 | ||
| 008 | 960117s1980 cl 00010 spa d | ||
| 035 | _a(Sirsi) 18323 | ||
| 035 | _a(Sirsi) 18323 | ||
| 040 |
_aUFRO _cCL-TeUF |
||
| 090 |
_aTUE _bG283m |
||
| 100 | 1 | 0 |
_aGavilán Avello, Raúl _917958 |
| 245 | 1 | 0 |
_aMedidor de deformación/ _cRaúl Gavilán Avello (y) Pedro Chehuaicura Vásquez |
| 260 | 0 |
_aTemuco, Chile: _bUniversidad de la Frontera; _c1980 |
|
| 300 |
_a127 p. ; _c28 cm. |
||
| 500 | _aProfesor Guía: Raúl Burgos Viveros. | ||
| 500 | _aIncluye índice, figuras. | ||
| 502 | _aSeminario (Técnico Universitario en Electrónica).-- Universidad de Chile, Temuco, 1980. | ||
| 650 | 0 | 4 |
_aMedidores de deformaciones _959584 |
| 700 | 2 | 0 |
_aChehuaicura Vásquez, Pedro _910574 |
| 942 |
_cTES _2ddc |
||
| 948 |
_a01/17/1996 _b11/17/1900 _zSirsi |
||
| 999 |
_c43584 _d43584 |
||